介绍一下影像测高和平面度的测量。
影像测高需要使用表面光照,光源上方的镜头倍数应为2至3倍。点击影像测高按钮,移动蓝色框到需要测量的面。开始对焦踩点,对焦时尽量保持匀速,来回对焦两次,点击接受改点并清除,再移动蓝色框到需要测量的另一个面。然后就可以显示出对焦的高度了。
平面度的测量与高度测量原理相同。同样的方式对焦,这里有辅助对焦,也就是对焦踩点。用同样的方法对焦四个点以上,采集完四个点后,选中四个点,点击构造平面,平面数据就会在数据区显示出来。
以上就是关于影像测高和平面度的测量。
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